金属涂层与其物理性能、化学性能有很大关系，将会直接影响涂层的实际应用效果。因此，金属厚度的测量与控制是涂层质量的重要控制指标，需要使用专业的仪器来进行测量。本文就给大家带来金属涂层厚度的检测方法。

金属涂层厚度怎么测？

物体的厚度是指物体的两个平行平面之间的距离，一般情况下，物体表面的微观不平，对物体厚度的测量不会造成影响。据此，金属镀层的厚度就应当是从基片与薄膜的结合平面到薄膜表面平面的垂直距离。但是由于基片与薄膜的结合面和薄膜表面是不平整的，薄膜也可能是不连续的，薄膜也可能是不连续的，而且薄膜的内部还可能存在着气孔、缺陷和杂质。所以，严格地定义和准确地测量薄膜厚度实际上是非常困难的，在膜厚实际测量中，膜层的厚度测量结果随所用测量方法而异，同一个薄膜，不同的测量方法会得到不同的测量结果。因此，应当根据金属涂膜应用目的和薄膜的性质选用适当的膜厚测量方法。

金属涂层厚度一般多少？

不同金属涂层厚度要求是不一样的。对于不同金属材料所使用的各种涂料的干膜厚度，通常由涂装说明书做出规定，被规定的涂膜称为规定厚度。规定厚度一般指必须基本得到保证的厚度值，但不意味着被涂表面的任何一处的干膜厚度均要达到或超过这一数值。判断膜厚是否达到规定要求，应该根据干膜厚度测定值的分布状态分析认定。对于干膜厚度分布状态的要求，不同国家要求不尽相同。规定：85%以上的检测点干膜厚度不小于规定膜厚，其余检测点的干膜厚度不小于规定膜厚的85%（通常简称两个85%）。两个90%：90%以上的检测点干膜厚度不小于规定膜厚，其余检测点的干膜厚度不小于规定膜厚的90%。

例如，两个85%：规定膜厚为100μm，在检测的20个点中，要有17个点的膜厚在100μm以上，其余3个点的膜厚不能低于85μm。

金属涂层厚度的检测方法：

金属涂层厚度的测量对涂膜物性检测至关重要，随着科技的进步，近几年来涂膜厚度测量技术发展也十分迅速，各类测厚仪的智能化日新月异，这些测厚仪基于各种不同的原理，广泛应用到各种领域。涂膜厚度测量，方法多样，测试原理各不相同。将涂膜厚度测量分为无损法和破坏法两类。就涂膜测厚仪的应用而言，目前国内外仍普遍采用磁性法、涡流法、N射线光谱法和射线反向散射法等无损法测量。

涂层厚度检测规范：

涂层测厚的基本步骤包括预处理、校对仪器、检测和结果评价。

试样预处理：保证测试样品表面整洁干净，以及符合要求的粗糙度、曲率等。

校对仪器：涂层厚度仪在检测之前，就需要进行零点校准以及多点校准。

检测：测量时，迅速将侧头与测试面垂直地接触并轻压侧头定位套，屏幕就会显示涂层厚度测量值。

结果评价：在所选是试样面积中，至少测出五个点；分别计算出他们的平均值，精确到0.5mm。

影响涂层测厚仪测量值精度的因素：

1、集体性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可用待涂覆试件进行校准。并且金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

除此之外试件粗糙度、曲率、变形、边缘效应都可能会导致涂层厚度测试结果不可靠。

2、测量环境

测量时，周围电器设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

3、操作方法

测量时，测头的压力大小会直接影响测量的读数，并且测头放置方式对测量结果也有一定的影响。在测量中，应当是测头与试样表面保持垂直，这是使用仪器时应当遵守的规定。